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某研究中心测试案例-HM628512ALP-7故障器件测试报告

测试案例 / 2020-05-08 17:53:50


某研究中心测试案例-HM628512ALP-7故障器件测试报告

Device:HM628512ALP-7
Package:32 pin DIL wide
Scan Profile:Low V Digital
Overall Result:FAIL
Operator:Administrator
Report Date:20 March 2012

提供某研究中心测试案例-HM628512ALP-7故障器件测试报告. 测试使用英国ABI的AT256集成电路测试仪，测试报告结果与集成电路失效管脚一致。

智联航-电路板故障检测设备 www.test.net.cn/article-detail/NoRaEq1B

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