英国abi电路板故障检测仪_集成电路测试仪

英国abi_AT256集成电路测试仪
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英国abi_AT256集成电路测试仪

英国abi_AT256集成电路测试仪
英国abi AT256集成电路测试仪可测试256管脚元器件;多类型,多品牌检测多种类型的元器件,好坏对比测试方法:1)元器件之间对比;2)存储对比测试;丰富可试的测试条件,测试条件:电压,电阻,频率,测试波形可调并组合条件测试;判定对比标准可根据客户需求设定;
产品型号: AT256
产品品牌: 英国abi


产品简介:                                                                                                              

英国abi AT256集成电路测试仪可测试256管脚元器件;多类型,多品牌检测多种类型的元器件,好坏对比测试方法:1)元器件之间对比;2)存储对比测试;丰富可试的测试条件,测试条件:电压,电阻,频率,测试波形可调并组合条件测试;判定对比标准可根据客户需求设定;

英国abi AT256集成电路测试仪可达测试管脚数:256

测试适用范围:                                                                                                     

元器件测试-适用于类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试

电路板测试-适用多种电路板的检测(附加测试电缆线和多种封装的测试夹)

英国abi AT256集成电路测试仪测试原理(V-I曲线测试):                                 

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。

被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:                                                                                  

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

2.将集成电路插入测试座.

3.执行测试

4.得到PASS或FAIL的测试结果.

商品输入检验

不需要电子专业知识.

适用于集成电路/封装件.及多种类型电路板

灵活、好安装、宜操作.

测试结果直接: PASS或FAIL.

软件可设定多种测试条件.

可提供元件测试分析报告.

适合不同封装形式的元件:                                                                                     

-双列插脚(DIL)

-小型封装集成集成电路(SOIC)

-小型封装(SSOP, TSOP)

-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

-球门阵列封装(BGA)

注意: AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

测试通道                                                                                                               

提供多达256个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。

用两种模式扫瞄:                                                                                                    

•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。

•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

数据库                                                                                                                   

用户可根据自己的需要,用性能好的器件创建ic的测试数据库,以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间,操作十分简单容易。

结果比较型式:                                                                                                       

将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:

•与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较

• 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。

软件- 灵活性                                                                                                         

1)软件提供测试库图形化修改功能,以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,

2)软件可以自定义各个通道的使用,一台机器可以同时检测多个器件

报告                                                                                                                      

1)软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。

2)用户可处理集成电路的多种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中,并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。

3)为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。

针印(PinPrint)动态阻抗详细分析元件的管脚.

定制化的报告(PinPrint).

转接器

标准型: 用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封装; 也有提供AT系列校正工具组。

通用型:

用于SOIC及PLCC封装; 一个转接器即适用于多种芯片尺寸, 测试有20、28、32、44、52、68、84脚的集成电路。

一个转接器即适用于测试宽0.15”~0.6”达44脚的集成电路。

客制型:

可订制多种封装的转接器, 包括: BGA、QFP; 请进一步洽询, 以设计符合您需求的转接器。

BGA插座转接器

技术规格:                                                                                                          

扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波

扫描测试频率:6种频率供选择:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz

扫描电压(Vs):4种峰值电压选择:-20~+20V 步进0.1V

扫描源电阻(Rs):3种电阻供选择:1kΩ, 10kΩ,100kΩ

扫描通道:AT256通道数量:256通道

显示模式:VI曲线图

扫描模式:手动或连续, 或自行设定扫描次数

扫描方式:                                                                                                            

一般模式:扫描信号是以一固定管脚为参考点,测试信号施加到待测元器件上.

矩阵模式:扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点,测试信号循环组合施加到待测元器件上.

电脑连接:USB接口,连接电脑使用,标准配置含上位机软件

适合不同封装形式的元件:                                                                                      

-双列插脚(DIL)

-小型封装集成集成电路(SOIC)

-小型封装(SSOP, TSOP)

-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

-球门阵列封装(BGA)

注意: AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块及电路板。

测试报告:可自行编辑测试报告

功率需求:线路电压:85~264VAC,频率:47~63Hz,功率:150W

尺寸/重量:尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg

操作温度.湿度:温度:10°C~30°C湿度: 20~80% RH。

保修期:一年

认证:CE认证& RoHS合格。

仪器用途                                                                                                               

假冒器件检测

• 可由仓库部门在收到集成电路时进行检查, 以收到的集成电路是真品; 商品输入部门的员工不需要电子知识即可操作这个系统。

• 检查可能伪造的集成电路, 并分析供货商的测试数据。用户可应用报告, 定问题的来源。

翻新及二手器件检测仪

能快速简单检测出翻新IC及集成电路测试的解决方案。

透过精密的PinPrint(针印)测试算法则,能够辨识出有不同内部结构或根本没有结构, 甚至是由不同厂家所制造的集成电路。

他就像您的电子守卫, 守卫在您生产设备之入口, 不受伪造元器件之渗透伤害。

何谓伪造翻新集成电路                                                                                         

   Counterfeit [koun-ter-fit](形容词): 意思是仿造, 以便虚伪不实地假装是真品。

   制造膺品(仿冒品)集成电路是非法的, 会出现(仿冒品)是因为电子零件的可转让。多国需要制造PCB集成电路的公司都在承担这个风险, 也或许曾经收到过大批的”不良”元器件。

   仿冒可透过多种过程达成: 在不可靠的过程里, 把集成电路从报废/弃置的电路板中取出, 接着作表面处理维修; 再加上伪相关信息于集成电路上, 包括制造厂商标, 然后拿来当作真品卖给粗心的买家。另一个方法则是真的凭正规的制造能力, 在标准工时以外的大夜班(ghost shift)生产集成电路, 然而, 以那种方式生产的芯片含有许多制造上的瑕疵, 有些甚至没有硅片(silicon die)。

   很不幸地, 得一直等到把它们放在PCB上, 在生产团队对组装进行初次测试时, 才可能鉴别到仿造的集成电路。如此将导致昂贵的过程-辨识问题集成电路、再把它们从生产中的电路板上拿掉。在某些情况下, 甚至得把整批成品回收回工厂。

   5年来, 仿冒集成电路的举发呈倍数地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占多国贸易总额的8%以上, 相当于损失60亿的销售额。



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